Talos F200X (FEI)

Site:

Dresden

RESOLUTION (nm)
0.16  0.25  -

Elektronenquelle



  • Typ: X-FEG

  • Beschleunigungsspannung: 200 kV

    Richtstrahlwert: 1.8 x 109 A cm-2 sr-1 (bei 200 kV)


Beleuchtung



  • 2-Kondensorlinsen-System


Abbildung



  • Objektiv: A-Twin-Linse

  • TEM-Informationslimit: 0.12 nm

  • TEM-Punktauflösung: 0.25 nm

  • STEM-HAADF-Auflösung: 0.16 nm


Kameras und Detektoren



  • 16-Megapixel CMOS-Kamera (FEI Ceta 16M) für TEM

  • Großwinkeldunkelfelddetektor (HAADF) für STEM

  • On-Axis Hellfeld-/Dunkelfeld-Detektor (BF/DF) für STEM


Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDXS)



  • Super-X-System (4 SDD symmetrisch)

  • effektiver Raumwinkel: 0.9 sr

  • Energieauflösung: 136 eV (Mn-Kα, 10 kcps)

  • Elementnachweis für Z ≥ 5


Probenhalter



  • Einfachkipphalter

  • Low-Background-Doppelkipphalter mit Be-Hex-Ring

  • High-Visibility-Low-Background-Doppelkipphalter mit SoftLoc (Mo or Bronze) optimiert für minimale EDXS-Abschattung

  • In-situ Einfachkipphalter zur mechanischen Dehnung (Gatan, Modell 654 mit Accutroller Modell 902)



Helmholtz Imaging spinning wheel

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